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RoentDek多重檢測(cè)探測(cè)器HEX

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  • 品牌名稱(chēng)：RoentDek
  • 規(guī)格型號(hào)：HEX
產(chǎn)品介紹

標(biāo)準(zhǔn)延遲線探測(cè)器 (DLD) 已經(jīng)結(jié)合了廣泛的應(yīng)用。與其他技術(shù)（例如象限陽(yáng)極、電阻屏陽(yáng)極、CCD 相機(jī)）相比，延遲線技術(shù)的限制要少得多。沒(méi)有其他技術(shù)能夠提供如此廣泛的參數(shù)，如高粒子率、高位置分辨率和低死區(qū)時(shí)間。借助 RoentDek HEX 探測(cè)器，延遲線技術(shù)已達(dá)到新的水平。從歷史上看，它們是為同時(shí)和無(wú)死區(qū)時(shí)間檢測(cè)多個(gè)電子而開(kāi)發(fā)的。到目前為止，沒(méi)有其他探測(cè)器概念在具有零死區(qū)的多重命中性能方面接近。

RoentDek HEX 探測(cè)器有各種尺寸，從 40 毫米有效面積到 120 毫米有效直徑 - 既可以作為單個(gè)設(shè)備，也可以作為完整系統(tǒng)的一部分，其中包括一整套所需的電子設(shè)備和完整的軟件解決方案（包括對(duì) LabView 的支持）。

RoentDek 始終專(zhuān)注于多粒子檢測(cè)（例如，記錄完整分子碎片所需的檢測(cè)）。硬件和軟件中的死區(qū)時(shí)間（min）和多次命中能力是我們理念的基本部分。

性能特點(diǎn)
  • 多粒子檢測(cè)。
  • 零死區(qū)時(shí)間（如果粒子間隔至少 10 毫米）。
  • 改進(jìn)的圖像線性。
  • 對(duì)實(shí)現(xiàn)的位置分辨率進(jìn)行內(nèi)在診斷在線控制。
  • 可提供中心孔。
技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地：德國(guó)

設(shè)計(jì)：3 層

粒子速率：超過(guò) 1 MHz

檢測(cè)：多粒子

absolute檢測(cè)效率：81%

位置分辨率：17 至 45 µm（RMS）

定時(shí)TOF分辨率：25 至 100 ps（RMS）

有效面積：40 毫米

有效直徑：120 毫米

探測(cè)類(lèi)型：標(biāo)準(zhǔn)延遲線

死區(qū)時(shí)間：零

產(chǎn)品應(yīng)用

原子/分子物理學(xué)

動(dòng)量光譜（例如 COLTRIMS 反應(yīng)顯微鏡）

激光和同步加速器測(cè)量

VMI

與其他探測(cè)器的巧合測(cè)量

產(chǎn)品參數(shù)

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