IMA 是一款高光譜顯微鏡,可在一臺(tái)儀器中提供 400 nm 至 1620 nm 的光譜和空間信息。通過(guò)將科學(xué)級(jí) VIS、NIR 和/或 SWIR 顯微鏡與 Photon 等成像濾光片相結(jié)合,可以對(duì)各種材料進(jìn)行廣泛的光學(xué)表征。我們的高光譜成像顯微鏡能夠在一次快照中獲取數(shù)百萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),并快速繪制光致發(fā)光 (PL)、電致發(fā)光 (EL)、熒光、反射率和透射率。IMA 可以靈活地配置為明場(chǎng)或暗場(chǎng)高光譜顯微鏡。此外,基于高通量成像濾光片,IMA 是一種比標(biāo)準(zhǔn)逐點(diǎn)掃描系統(tǒng)更快、更高工作效率的高光譜成像系統(tǒng)。
產(chǎn)地:加拿大
光譜范圍:400-1000 nm
光譜分辨率 (FWHM):< 2 nm
光譜通道:連續(xù)可調(diào)
空間分辨率:亞微米 - 受顯微鏡物鏡 NA 限制
相機(jī):CCD、EMCCD、sCMOS
激發(fā)波長(zhǎng)(max.3 個(gè)激光器):405、447、532、561、660、730、785、808 nm(可根據(jù)要求提供其他波長(zhǎng))
顯微鏡:直立或倒置,科學(xué)級(jí)
白光照明:透射、落射、汞、鹵素
照明選項(xiàng):落射熒光模塊、暗場(chǎng)模塊(油或干)
生物化學(xué)與納米傳感器:SWCNT 作為多路復(fù)用成像的熒光探針
納米粒子:AuNPs 的暗場(chǎng)成像
鈣鈦礦:鈣鈦礦光譜和空間分析
CIS:CIS 光譜研究
CIGS:CIGS 光譜和空間分析
GaAs:GaAs 準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)映射
Si:Si 的光譜和空間研究