SYCATUS 提供用于光頻率噪聲測(cè)量的 A0040A 光噪聲分析儀。
隨著數(shù)字相干傳輸技術(shù)的發(fā)展,激光源的光譜純度已成為重要的問(wèn)題。另一方面,高功能激光源(如 ITLA)由于與電子器件或復(fù)雜的控制方案集成在一起,也面臨著電磁干擾引起的光頻波動(dòng)問(wèn)題。
激光線(xiàn)寬測(cè)量是評(píng)估激光源光譜純度的傳統(tǒng)方法。然而,激光線(xiàn)寬不足以分析光頻噪聲的成分。由于數(shù)字相干傳輸系統(tǒng)中的 DSP 用于頻率偏移補(bǔ)償?shù)膸捰邢?,因此須使用頻譜分析來(lái)代替激光線(xiàn)寬測(cè)量。
A0040A 光學(xué)噪聲分析儀通過(guò)結(jié)合 SYCATUS 的獨(dú)特方法和 Keysight X 系列信號(hào)分析儀,能夠以功率譜密度的形式捕捉光學(xué)頻率噪聲特性。
產(chǎn)地:日本
光波長(zhǎng)范圍:1520-1620 nm、1260-1360 nm或 1260-1620 nm
光頻噪聲分析帶寬:min.5Hz
Max.12.5 MHz、20 MHz、80 MHz、127.5 MHz 或 255 MHz
(取決于信號(hào)分析儀的規(guī)格)
噪音下限:6 mHz-rms2/Hz(@1 MHz,標(biāo)準(zhǔn)模式)
0.6 mHz-rms2/Hz(1 MHz,高靈敏度模式)
輸入光功率范圍:-7 dBm 至 +3 dBm
測(cè)量時(shí)間:<20 秒(標(biāo)準(zhǔn)模式,50 個(gè)平均值)
<0.5 秒(高速掃描模式,50 個(gè)平均值)
線(xiàn)寬測(cè)量:< 1KHz
捕捉形式:功率譜密度
分析內(nèi)容:1/f 噪聲、白噪聲和洛倫茲線(xiàn)寬
附加功能:延遲自外差干涉儀