Chroma Technology 對精度和創(chuàng)新的承諾延伸到了其計量能力。使用先進(jìn)的測量設(shè)備，我們確保我們的產(chǎn)品符合光學(xué)性能的高標(biāo)準(zhǔn)。我們的計量團(tuán)隊在維護(hù)光學(xué)濾光片的質(zhì)量方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，可實(shí)現(xiàn)高信噪比、高圖像質(zhì)量以及從生命科學(xué)和到天文和科學(xué)成像等各種應(yīng)用所需的精度。
Chroma 計量的關(guān)鍵組件
先進(jìn)的測試解決方案
我們擁有各種先進(jìn)的計量設(shè)備，包括：
- UV-SWIR 分光光度計
- 傅里葉變換紅外 (FTIR) 光譜儀
- 激光干涉儀
- 光學(xué)輪廓儀
- 自動準(zhǔn)直儀
- 坐標(biāo)測量機(jī) (CMM)
我們一絲不茍地評估光譜特性、表面質(zhì)量和圖像質(zhì)量。Chroma 投資于技術(shù)，以確保我們的光學(xué)濾光片在整個制造過程中具有高的性能。
定制測試協(xié)議
您的獨(dú)特應(yīng)用值得量身定制的解決方案。我們的計量團(tuán)隊與客戶密切合作，根據(jù)具體要求制定定制測試協(xié)議。在 Chroma，我們?yōu)槟軌蛱峁┎粌H滿足而且超出苛刻行業(yè)性能期望的光學(xué)濾光片而感到自豪。
質(zhì)量控制
測量光譜性能
Chroma 采用一套先進(jìn)的 Cary 分光光度計，覆蓋 200-NIR。我們對每個生產(chǎn)批次進(jìn)行光譜測量，以確保濾光片符合規(guī)格要求。我們?yōu)槟夸洰a(chǎn)品指定規(guī)格，這是我們通過 25 年的經(jīng)驗開發(fā)的。對于我們的 OEM 客戶和那些要求定制零件的客戶，我們提供指定的光譜性能。
光譜范圍：200-3300nm
動態(tài)范圍：100 percent T → OD8
光譜分辨率：解析 1 Å 或更大的光譜特征
測量光學(xué)特性
使用 Zygo 干涉儀和定制的自準(zhǔn)直儀，Chroma 可以準(zhǔn)確測量透射波前畸變 (TWD)、表面平整度（反射波前畸變/2）和平行度（楔形）。
我們根據(jù)規(guī)格測量尺寸的物理尺寸，并執(zhí)行常規(guī)表面質(zhì)量檢查，例如 S/D（劃痕/凹陷），并確保發(fā)貨的產(chǎn)品沒有任何外觀缺陷。
透射波長分辨率：1/20λ
表面平整度分辨率：1/20λ
平行度：1 角秒
開拓持續(xù)改進(jìn)
在充滿活力的光學(xué)領(lǐng)域，保持地位至關(guān)重要。Chroma Technology 的計量團(tuán)隊與我們的各個工程學(xué)科密切合作，以提升我們的能力，其中包括探索新的測量技術(shù)。這種對持續(xù)改進(jìn)的承諾確保我們的產(chǎn)品始終處于性能和創(chuàng)新的前端。
與 Chroma 一起探索光學(xué)世界
Chroma Technology 的計量能力是我們致力于提供光學(xué)解決方案的基石。通過先進(jìn)的設(shè)備、精密校準(zhǔn)、定制的測試協(xié)議、嚴(yán)格的質(zhì)量控制以及對持續(xù)改進(jìn)的堅定承諾，我們確保我們的光學(xué)濾光片滿足不同行業(yè)的嚴(yán)格要求。
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