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X-RES 是那些需要高分辨率性能的光譜儀的理想之選，它能夠解析準(zhǔn)確度達(dá) 0.05 nm (FWHM) 的緊密排列光譜特征。X-RES 安裝在堅(jiān)固緊湊的光學(xué)臺上，焦距為 100 mm，能夠在工作波長范圍內(nèi)提供高的性能和靈敏度以及較大的峰值對稱性，這使得該系列光譜儀成為高分辨率應(yīng)用的解決方案。
用戶可更換狹縫和光學(xué)濾光片、電源狀態(tài)指示器和觸發(fā)功能等功能可將此光譜儀集成到您的設(shè)置中。X-RES 提供即用型（適用于更常見的應(yīng)用）和用戶自定義（適用于更具體的應(yīng)用）配置，適用于窄 UV-Vis 和 Vis-NIR 范圍以及擴(kuò)展的 UV-Vis-NIR 范圍。
- 非常適合高分辨率應(yīng)用
- 用戶可更換狹縫和光學(xué)濾光片
- 光學(xué)分辨率低至 05 nm (FWHM)
- 改進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì) - 焦距為 100 mm
- 附帶 LightScan 軟件
產(chǎn)地：葡萄牙
操作范圍：185-1100 nm（分為 8 個(gè)操作范圍）
聚光透鏡：可選（包括在靈敏度提高的版本中）
光纖連接器：SMA 905
觸發(fā)器：輸入/輸出
狹縫尺寸：10 μm（可更換）
探測器：3648 元件Toshiba
集成時(shí)間：3ms-214s
軟件：LightScan（包含）
光柵：根據(jù)所選范圍
光學(xué)分辨率：0.05 至 0.1 nm
接口：Mini-USB
X-RES 是一款具有高分辨率性能的光譜儀，能夠滿足您的高分辨率應(yīng)用的所有要求。
用戶可更換的狹縫和光學(xué)濾光片功能允許您設(shè)置 X-RES 以進(jìn)行更靈敏的測量。這種靈活性與改進(jìn)的靈敏度相結(jié)合，使該系統(tǒng)成為那些高分辨率應(yīng)用的解決方案，例如激光器和 LED 的波長特性、監(jiān)測校準(zhǔn)源的光譜發(fā)射線或確定元素原子發(fā)射線。
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