2DQuick IR 旨在使用陣列檢測(cè)器收集高質(zhì)量的 2D 紅外光譜。該光譜儀采用中紅外脈沖整形技術(shù)和單色儀陣列檢測(cè),可快速收集數(shù)據(jù)并實(shí)現(xiàn)高信噪比。
產(chǎn)地:美國(guó)
重復(fù)率:≤ 100 kHz
建議脈沖能量:≥ 8 μJ @ 1 kHz
≥ 1 μJ @ 100 kHz
輸入偏振:線性,水平
輸入光束尺寸 (1/e^2):7 mm,準(zhǔn)直
泵浦探測(cè)延遲:> 150 ps
標(biāo)準(zhǔn) AR 涂層:2.6 - 10 μm(1000 - 3850 1/cm)(其他波長(zhǎng)范圍可根據(jù)要求提供)
光譜窗口:> 1.5 μm at 5.5 μm
光譜分辨率:< 5 1/cm at 5.5 μm
雙脈沖延遲max.:> 5 ps1 at 5.5 μm
底座尺寸:18.0 x 39.0 x 6.3 英寸(45.7 x 99.1 x 16.1 厘米)
帶單色儀和探測(cè)器尺寸:約49.8 x 21.4 x 9.5 英寸(約 127 x 54 x 24 厘米)