產(chǎn)品中心
VT750是用于生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗和計量實驗室環(huán)境的干涉儀塔。此外，還提供“tower only”版本“B”，用于集成現(xiàn)有或第三方干涉儀單元，或配備ZYGO Verifire和ZYGO MX條紋分析軟件的版本“Z”。該系統(tǒng)可以配備PC桌、2個屏幕、鼠標和鍵盤，也可以配備內(nèi)置PC和觸摸面板，以優(yōu)化操作并更大限度地減少生產(chǎn)環(huán)境中的空間需求。
- 天然花崗巖柱具有非常平坦和準確的導向表面，便于使用，可以非常準確地測量光學元件的曲率半徑
- 高精度和準確的線性標尺，具有高的分辨率，直接與條紋分析軟件連接
- 測量臺在空氣軸承滑塊上平衡和導向，便于快速、簡單、準確地設(shè)置和移動
- 占地面積小，價值非凡，結(jié)合高精度和剛性，免維護設(shè)計
- 堅固的減振系統(tǒng)，非常適合工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境
- XONOX X-fiz 100（4英寸）或X-fiz 130（5.2英寸）高性能斐索干涉儀，可電子控制光學變焦（1x至10x）、聚焦和對比度
- 創(chuàng)新、強大、用戶友好的條紋分析系統(tǒng)X-fringe²，具有不同的智能和智能模式，可適應各種應用
- 從具有靜態(tài)條紋分析的低成本“ST”版本到高性能“PS2”相移版本進行選擇
VT750 ST：配備XONOX X-fiz 100（4英寸）/X-fiz 130（5.2英寸），帶10倍光學變焦和靜態(tài)條紋分析系統(tǒng)XONOX“X-fringe ST”
VT750 PS2：配備XONOX X-fiz 100（4英寸）/X-fiz 130（5.2英寸），帶10倍光學變焦，相移條紋分析系統(tǒng)XONOX“X-frige²”和壓電移相器XONOX”X-phase PMR“
VT750 Z：帶ZYGO Verifire 4“或6”干涉儀單元和Mx相移條紋分析
VT750 B：用于集成現(xiàn)有干涉儀單元的“tower only”版本。
可選配XONOX條紋分析系統(tǒng)X-fringe²ST或帶X相PMR移相器的X-fridge²PS。
產(chǎn)地：美國
行程范圍：max.750mm（800mm線性刻度范圍）
測試直徑：max.200mm（取決于使用的TS和零件支架）
測量系統(tǒng)：帶PC接口和溫度擴展補償功能的增量高精度線性測量系統(tǒng)（標準）/可選激光放電測量系統(tǒng)（可選）
測量精度：20°C時每500mm高達+/-0.7μm
分辨率：高達0.1µm（標準0.5µm）
尺寸（寬x深x高）：800 x 900 x 2100 mm
（如果使用PC進行條紋分析，則需要額外的空間，XONOX PC臺可選）
連接：10-240V/50-60Hz
壓縮空氣：6bar
重量：約500kg
顏色：淺灰色RAL 7035
津公網(wǎng)安備12010102000950號